我们的客户主要包括半导体设备行业、汽车和汽车供应商行业、医疗技术行业、防务与安防行业以及航空业的企业。

探针型号：

JENOPTIK 探针 284039

JENOPTIK 探针  240160  

粗超度和轮廓测量，

应用领域：

汽车行业：在一次测量运行中测量粗糙度和轮廓特性

汽车工业：测量工件的表面粗糙度

激光测距仪，

业纳的激光距离传感器，能够以微秒采样率测量和监测 200 毫米至 3 千米的距离和位置，到毫米。无需接触测量表面，不会产生磨损。

应用领域

自动化：料位测量，过程控制。

工业测量： 非接触式距离、长度和高度测量。

运输和输送机技术：距离和高度测量到毫米，车辆检测

炼钢厂和轧钢厂：钢坯的过程控制、检测、位置和厚度测量。

扫描系统：快速距离测量

显微照相机（业纳的JENOPTIK GRYPHAX®和ProgRes®系列显微镜照相机可输出低噪声的清晰图像。得益于所使用的先进的CMOS传感器，JENOPTIK GRYPHAX®相机还可以以视频速度输出优质的实时图像。）

应用领域

生命科学：例如，应用于医学、病理学、血液学、细胞学、遗传学、生物学和化学的显微镜照相机

质量控制：例如，用于颗粒分析、焊缝测试和控制制造过程的显微镜照相机

材料科学：用于矿物学和金相学的显微镜照相机——用于确定结构，定量和定性的样品分析和记录

：例如，用于妥善保管证据、文件审查和法医学的显微镜照相机

激光设备（使用Jenoptik提供的经济高效的激光设备，可以对一系列材料进行切割、焊接和打孔）

应用领域

汽车工业：在仪表板安全气囊对应位置预设爆破点的打孔，以及塑料和金属部件的三维激光加工（焊接和切割）。

家用技术：外壳和塑料部件的激光切割和焊接。

电子产品和家用产品行业：显示器、阀、泵、传感器外壳的激光焊接。

医疗技术：血糖监测仪、导管、透析机的激光焊接。

业纳的定制和标准物镜

业纳高性能光学涂层和滤光片

业纳测量仪的优势

我们的所有测量系统都非常，并且提供重复精度。我们的测量系统甚至可以检测到小的标准偏差，从而确保您能够生产出始终具有高品质的组件。测量运行基本上是自动化的，因此可防止操作员误操作。您还可以节省时间、资金和资源。

业纳测量仪采用模块化设计，这意味着既可以轻松将其集成到现有的测量系统中，也可以扩展测量仪。您可以根据自己的需求来配置测量站。如果需要，我们可以*根据您的需求，开发并制造出适用于轮廓和粗糙度测量的测量仪。此外，您将可以受益于我们多年的经验和丰富的专业知识。

使用三坐标测量机进行测量之初，通常要先进行探针校正。探针校正的意义如下。

1）正确确定探针的实际位置

使用一根固定的探针，只能测量简单形状的工件，对于深孔、长柱或有多个测量平面的复杂工件，通常需要使用多根探针组合或单探针多转位的可回转测头才能完成测量任务。但处在不同位置的探针将会给出不同的坐标值。为了获得正确统一的坐标值，软件系统必须能自动修正处于不同位置探针的坐标差值。而这些坐标值就是通过探针校正程序来确定，并储存在计算机内部数据库时里。

2）补偿测端球径与探针挠曲变形误差

*，有测量力就会有变形，尽管接触式探针的测量力不是很大，但对于高精度的三坐标测量来说，测量力使得测杆挠曲变形带来的误差是不容忽视的。理论和实践都表明，一根普通的细长探针的挠曲变形可带来数十微米的误差，挠曲变形是一个复杂的物理过程，它受测力大小和测杆长短、粗细、材质以及接触形式等诸多因素的影响。从力学的角度来分析和确定变形量的大小是较困难的，也是不可取的。在三坐标测量的实践中，是通过测量一已知的实物标准（如标准球、量块）得到带有挠曲变形误差的测端作用直径。实际测量时，再和测端作用直径对它进行补偿以获得精密测量结果。在这一补偿中，也在一定程度上补偿了动态探测误差。

用于测量轮廓和粗糙度的测量仪

使用我们的测量仪，您可以在单个探测步骤或单独的测量运行中测量组件的粗糙度和轮廓。

用于测量轮廓和粗糙度的测量仪

业纳测量仪可用于测量工件的粗糙度或轮廓。我们既提供在单独的测量运行中进行测量的型号，也提供在单个探测步骤中进行测量的型号。此外，您可以在移动式和固定式系统之间进行选择，以便执行简单和复杂的测量任务。

典型的曲轴测量任务

接触表面以及主轴承和销轴承的粗糙度测量

轮廓测量：槽凸面半径、主轴承和销轴承

密封面的扭纹测量

典型的凸轮轴测量任务

支承点、槽和凸轮上的粗糙度测量

凸轮或振动纹的波度测量

典型的缸体测量任务

曲轴支承点的粗糙度测量

密封面的粗糙度和波度测量

缸孔的粗糙度测量

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JENGELSMANN 混料器 RRM Mini-II

JENOPTIK 粗糙度仪测量头 T1E 适用粗糙度仪：HOMMEL TESTER T1000

JENOPTIK 环规 MIN MASTER 12.015 NR:E500002-054

JENOPTIK 测环 Φ12.001 ±15 NR:115102-B000

JENOPTIK 备件 10068568

JENOPTIK 校准销 master pin Φ 12.013 NR:115102-E000

JENOPTIK 环规 MIN MASTER 11.995 E500002-54

JENOPTIK 备件 10066899

JENOPTIK 备件 M0435041

JENOPTIK 校准销 master pin Φ 11.9895 NR: 115102-F000

JENOPTIK 测头 12.005±15 NR:115102-A000

JENOPTIK        探针   284039 TC EL20/11H L32 D3/32